DIN IEC 60747-2-1989 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 19:57:55   浏览:8415   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Semiconductordevices;discretedevicesandintegratedcircuits;rectifierdiodes;identicalwithIEC60747-2:1983
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范
【标准号】:DINIEC60747-2-1989
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1989-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;半导体器件;额定值;作标记;验收检验;符号;整流二极管;二极管;规范(验收);可靠度;电气工程;极限(数学);测量;集成电路;定义;电学测量;电子设备及元件;检验;电子工程
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L43
【国际标准分类号】:31_080_10
【页数】:36P;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热
英文名称:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 2:Cold,heat,humidity
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 光学仪器综合
ICS分类: 成像技术 >> 光学设备
替代情况:替代GB/T 12085.2-1989
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-14
实施日期:2011-05-01
首发日期:1989-12-29
作废日期:
主管部门:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
提出单位:中国机械工业联合会
归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
起草单位:宁波永新光学股份有限公司、上海理工大学
起草人:曾丽珠、章慧贤、冯琼辉、叶慧
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-05-01
页数:12页
适用范围

本部分规定了低温、高温、湿热试验的试验条件、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、化学及电学等特性受到温度和湿度影响的变化程度。

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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 光学仪器综合 成像技术 光学设备
【英文标准名称】:
【原文标准名称】:玻璃应变点试验方法
【标准号】:JISR3103-1978
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1978-09-01
【实施或试行日期】:1978-09-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:应变测量;试验;应变;玻璃
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q30
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: